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华为DDF架上的测试塞导致PQ1不断闪报TX_E1_LOC告警

发布时间:2018-12-16 22:22:00浏览次数:资料来源:www.szdingwei.net

问题描述

网元A和B均为华为OSN3500设备。A的4槽位PQ1的1端口和B的2槽位PQ1的23端口在DDF架上跳接。跳接好后网元A的一槽位PQ1第一个2M不断闪报TX_E1_LOC告警,不断触发TPS倒换。

处理过程

1、查询发现跳接好后网元A4槽位PQ1的1端口频繁报TX_E1_LOC告警,引起倒换。

2、从DDF上断开2M,2边端口都上报TALOS。分别内环无TX_E1_LOC告警,说明单板没有问题是外部信号不好导致。

根因

1、查询发现跳接好后网元A4槽位PQ1的1端口频繁报TX_E1_LOC告警,引起倒换。

2、从DDF上断开2M,2边端口都上报TALOS。分别内环无TX_E1_LOC告警,说明单板没有问题是外部信号不好导致。

解决方案

1、查询发现跳接好后网元A4槽位PQ1的1端口频繁报E1LOC告警,引起倒换。

2、断开2M报TALOS无E1LOC告警上报也不发生TPS倒换。

3、自环无E1LOC告警,说明单板没有问题是外部信号不好导致。

4、后发现2M跳接的塞子中间还加了一个测试的塞子,将这个塞子去除后TX_E1_LOC不再上报,也没有TPS倒换发生。

建议与总结

测试后,要把测试塞子从DDF架上撤除,否则会影响2M信号的传输。


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